Allgemein
| Funktion | Enhanced Bit Error Rate Tester (EBERT) |
|---|---|
| Schnittstelle | Parallel |
| Hersteller | Analog Devices Inc./Maxim Integrated |
| Montageart | Surface Mount |
| Product Status | Active |
Analog Devices Inc./Maxim Integrated
DS2174QN
DatenblattAnalog & Leistungselektronik
ENHANCED BIT ERROR RATE TESTER
Technische Spezifikationen
Strukturierte elektrische, mechanische und umweltbezogene Parameter aus importierten Produktattributen.
Elektrisch
| Versorgungsspannung | 3V ~ 3.6V |
|---|---|
| Versorgungsstrom | 60mA |
| Anzahl Schaltungen | 1 |
Mechanisch
| Gehäuse | Bulk |
|---|---|
| Package / Case | 44-LCC (J-Lead) |
| Hersteller-Gehäuse | 44-PLCC (16.59x16.59) |
Umwelt
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
|---|